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TA.XTC質(zhì)構(gòu)儀通過穿刺試驗(yàn)測試不同品牌巧克力的硬度

點(diǎn)擊次數(shù):1654 更新時(shí)間:2019-01-28

將樣品在實(shí)驗(yàn)前從包裝袋中取出,切至為大小均一的巧克力塊。

測試前,對TA.XTC質(zhì)構(gòu)儀進(jìn)行檢查,對力量感應(yīng)元進(jìn)行清零。

將探頭和樣品調(diào)整至合適的高度,進(jìn)行重量校準(zhǔn)(單次下壓一定距離時(shí),不需對高度進(jìn)行校準(zhǔn)),隨后將樣品放置在探頭的中心下,根據(jù)試驗(yàn)需要,選擇所需測試指標(biāo)(大正力),開始試驗(yàn)。

用TA.XTC質(zhì)構(gòu)儀通過穿刺試驗(yàn)測試不同品牌巧克力的硬度的原理是一旦感應(yīng)力達(dá)到5g,探頭開始穿刺6mm的深度。力開始快速的增加由于穿透了樣品表面,然后力開始保持穩(wěn)定的狀態(tài),直到實(shí)驗(yàn)結(jié)束。A樣品硬度小,峰值少,而B樣品硬度大,峰值多,這是由于A樣品在刺穿的過程中,未斷裂,且巧克力內(nèi)層結(jié)構(gòu)明顯較外層軟,所有在個(gè)峰值后突然減??;而B樣品在刺穿過程中均斷裂,所以有多個(gè)峰值出現(xiàn)。顯然在保證樣品結(jié)構(gòu)不改變(不斷裂)的情況下,數(shù)據(jù)重復(fù)性更好。

數(shù)據(jù)分析:分析曲線大正峰值, 2種樣品,進(jìn)行6次重復(fù)的分析結(jié)果(+/-SD.)(不合適數(shù)據(jù)需剔除),如下:樣品A的堅(jiān)固性的大正峰值是979.6+/-67.45;樣品B的堅(jiān)固性的大正峰值是3313.45 +/-85.75。

樣品的均一性對于試驗(yàn)結(jié)果非常重要;

測試過程中,對于一些不確定是否重復(fù)性好的測試(樣品凹槽處刺穿),需先進(jìn)行檢驗(yàn),若不行,則剔除;

可以修改實(shí)驗(yàn)參數(shù),比如穿刺的深度,這將改變硬度的數(shù)值。任何一個(gè)數(shù)值的獲得都是同穿刺的深度聯(lián)系的;

儲存、包裝和處理樣品對實(shí)驗(yàn)而言都是可變的參數(shù)。保持這些參數(shù)的一致對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的對比有著重要的意義。

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